分析天平的使用規(guī)則
(l)稱(chēng)量前用軟毛刷清掃天平，保持天平清潔。檢查天平各部位是否處于正常位置，全部祛碼是否都掛在加碼鉤上，天平是否水平，然后檢查和調(diào)整天平的零點(diǎn)。
(2)稱(chēng)量物必須放在天平秤盤(pán)的中央，避免秤盤(pán)左右擺動(dòng)。不能稱(chēng)量過(guò)冷或過(guò)熱的物體，以免引起空氣對(duì)流使稱(chēng)量的結(jié)果不準(zhǔn)確。稱(chēng)取具有腐蝕性或吸濕性的物體時(shí)，必須把它們放在密閉容器內(nèi)稱(chēng)量。
(3)稱(chēng)量過(guò)程中要特別注意保護(hù)刀口。啟動(dòng)開(kāi)關(guān)旋鈕(升降樞)時(shí)，必須緩慢均勻，避免天平擺動(dòng)劇烈;增減祛碼或取放物體時(shí).必須將天平梁托起，使天平休止。不能在天平未休止的狀態(tài)下進(jìn)行上述操作，當(dāng)加減祛碼尚未達(dá)平衡時(shí)，不能把天平全啟動(dòng)，.只要開(kāi)到能判斷指針的偏轉(zhuǎn)方向(向右或左)即可。這些規(guī)范操作是保護(hù)天平刀口的關(guān)鍵，必須遵循。
(4)在同一實(shí)驗(yàn)中，所有的稱(chēng)量要使用同一架天平，以減少稱(chēng)量的系統(tǒng)誤差。天平稱(chēng)量不能超過(guò)最大載重，否則易損壞天平。
(5)稱(chēng)量完畢后應(yīng)將各部件恢復(fù)原位，關(guān)好天平門(mén)，罩上天平罩，切斷電源。并檢查盒內(nèi)祛碼是否完整無(wú)缺和清潔，最后在天平使用登記本上登記使用情況.
(6)稱(chēng)量的一般程序如下:空載時(shí)天平零點(diǎn)的調(diào)整:檢查天平水平儀與祛碼是否處于正常位置后，打開(kāi)升降樞(開(kāi)關(guān)旋鈕)，觀察屏幕上的黑線是否與光標(biāo)零點(diǎn)重合，.如果零點(diǎn)偏離黑線不大，則可調(diào)節(jié)底板下的微動(dòng)調(diào)節(jié)桿，使黑線移動(dòng)至零點(diǎn)處;如果零點(diǎn)偏離較大，則需調(diào)節(jié)天平橫梁的平衡螺絲，直到黑線與零點(diǎn)重合。
分析天平的稱(chēng)量方法
(1)直接稱(chēng)量法直接稱(chēng)量法用于稱(chēng)取不易吸水、在空氣中性質(zhì)穩(wěn)定的物質(zhì)。將試樣置于天平盤(pán)的表面皿上直接稱(chēng)取。稱(chēng)量時(shí)先調(diào)節(jié)天平的零點(diǎn)至刻度“O”或“0”附近，把待稱(chēng)物體放在左盤(pán)的表面皿中，按從大到小的順序加減祛碼(lg以上）和圈碼(10一990 mg)，使天平達(dá)到平衡，則祛碼、圈碼及投影屏所表示的重量(經(jīng)零點(diǎn)校正后)即等于該物質(zhì)的重量。
(2)指定質(zhì)量稱(chēng)量法指定質(zhì)量稱(chēng)量法又稱(chēng)為增量法，此法用于稱(chēng)量某一固定質(zhì)量的試
樣，適用于不易吸潮、在空氣中性質(zhì)穩(wěn)定的粉末狀或小顆粒試樣。使用電光天平稱(chēng)量時(shí)，在左盤(pán)放己稱(chēng)過(guò)質(zhì)量的表面皿或其他容器，根據(jù)所需試樣的質(zhì)量，在右盤(pán)上放好祛碼，然后用牛角勺向容器中加固體試樣。加樣時(shí)，小心地將盛有試樣的牛角勺伸向容器上方約2一3 cm處，勺的另一端頂在掌心上，用拇指、中指及掌心拿穩(wěn)牛角勺，并用食指輕彈勺柄，將試樣慢慢抖入容器中，直到天平平衡為止。若使用電子天平，首先將容器放到稱(chēng)量盤(pán)上，按去皮鍵歸零，然后將所稱(chēng)物質(zhì)加入到容器中，直到指定的質(zhì)量為止。
(3)將稱(chēng)量瓶置于天平盤(pán)上，取出紙帶準(zhǔn)確稱(chēng)量。然后仍用紙帶將稱(chēng)量瓶從天平盤(pán)上取下.用左手將它舉在要放試樣的容器(燒杯或錐形瓶)上方，右手用小紙片夾住瓶蓋柄，打開(kāi)瓶蓋，將稱(chēng)量瓶慢慢地向下傾斜，并用瓶蓋輕輕敲擊瓶口，使試樣慢慢落入容器內(nèi)，注意不要撒在容器外.如圖3一9所示。當(dāng)傾出的試樣接近所要稱(chēng)取的質(zhì)量時(shí)，將稱(chēng)量瓶慢慢收起，同時(shí)用稱(chēng)量瓶蓋繼續(xù)輕輕敲擊瓶口，使翰附在瓶口上的試樣落入瓶?jī)?nèi)，再蓋好瓶蓋。然后將稱(chēng)量瓶放回天平盤(pán)上稱(chēng)量，兩次稱(chēng)得質(zhì)量之差即為試樣的質(zhì)量。
